La placa de prova de semiconductors circular de 32 capes dels circuits Uniwell és un producte de PCB multi-capes d'alta dificultat, amb les següents característiques bàsiques i àrees d'aplicació:
Característiques bàsiques del procés
Paràmetres bàsics: fet de material de làmina d'alta TG, amb un gruix d'aproximadament 4,8 -5,0 mm, la superfície es tracta amb or de galvanoplastia local i la deformació es controla estrictament en menys o igual al 0,3%, complint els requisits de planitud d'alta precisió dels escenaris de proves de semiconductors.
Tecnologia de precisió: admet un disseny d'espai interior mínim de 0,17 mm, combinat amb la tecnologia de forats de tap de resina, amb una obertura mínima de 0,4 mm, adequat per a requisits de cablejat d'alta-densitat i pertany a un producte típic de PCB-de gamma alta amb una gran relació entre gruix i diàmetre.
Principals àrees d'aplicació
Aquest tipus de placa de prova de semiconductors pertany als components bàsics de suport de la cadena de la indústria de semiconductors, dividits principalment en tres categories: placa de targeta de sonda, placa de càrrega de prova i placa d'envelliment. Els escenaris bàsics d'aplicació inclouen:
El procés de verificació funcional i proves de rendiment després de l'embalatge de xips garanteix la calibració dels paràmetres i una bona selecció del producte abans de la
el xip surt de la fàbrica
Proves de fiabilitat d'envelliment de-xips de gamma alta, simulant condicions de treball extremes per verificar l'estabilitat-a llarg termini del funcionament dels xips
L'extensió posterior cobreix escenaris de proves de xips-de gamma alta en centres de dades, servidors d'IA, equips de comunicacions d'alta-finalitat, indústries de control industrial, aeroespacial i militar, proporcionant suport de prova per al funcionament estable de xips d'alta potència informàtica i alta fiabilitat.