Placa de prova bàsica HWHS de 6 capes Uniwell Circuits

Placa de prova bàsica HWHS de 6 capes Uniwell Circuits

Material: IT968G 10G: Dk3.7/Df0.0050 PÈRDUA: 0,32 dB/polzada Tolerància de demensió: +/-2 mil Tolerància del forat: +/-1 mil
Enviar la consulta

Shenzhen Uniwell Circuits Co., Ltd. és un dels principals fabricants i proveïdors de placa de proves de nucli HWHS de 6 capes Uniwell Circuits a la Xina, també admet un servei personalitzat amb un preu baix. Si voleu comprar un tauler de proves de nucli HWHS de 6 capes Uniwell Circuits d'alta qualitat, us convidem a obtenir un pressupost de la nostra fàbrica.

 

La placa de prova bàsica HWHS de 6 capes és un producte de PCB multi-capes llançat per Uniwell Circuits per a escenaris de prova d'alta-precisió. Té les característiques bàsiques d'alta planitud, alta densitat de cables i alta integritat del senyal, i és adequat per als requisits d'entorn de proves durs.

 

Descripció del producte

Material

IT968G

10G

Dk3,7/Df0,0050

PÈRDUA

0,32 dB/polzada

Tolerància de demensió

+/-2 mil

Tolerància al forat

+/-1 mil

Característiques bàsiques del producte

 

Garantia de precisió del procés: basant-se en una tecnologia de processament d'alta{0}}precisió, l'amplada mínima de línia/interlineat pot arribar a 3/3 mil, admet el procés de microforat de perforació làser, amb una obertura mínima de 0,1 mm, una excel·lent precisió d'alineació entre capes, evitant eficaçment la desalineació entre capes, interferències de senyal i altres problemes.
Rendiment de fiabilitat: la deformació del tauler es controla a un nivell extremadament baix mitjançant la tecnologia d'unió al buit, combinada amb tecnologia de protecció del medi ambient-sense plom, d'acord amb els estàndards de certificació RoHS i UL, i pot suportar cicles d'alta temperatura i proves d'envelliment a llarg termini-, garantint un procés de prova estable i sense errors.
Disseny estructural especial: la superfície del tauler està disposada amb coixinets de prova densos i estructures de dits d'or per complir els requisits de les proves de contacte de la sonda. La diferència d'alçada dels coixinets de la zona BGA es controla dins d'un rang molt reduït per garantir un contacte estable de la sonda durant les proves.

Principals àrees d'aplicació

 

Prova de xips de semiconductors: es pot utilitzar en el procés de prova d'hòsties per examinar els paràmetres elèctrics dels grans d'hòsties abans de l'envasament de xips, evitant costos d'embalatge ineficaços; També es pot utilitzar com a tauler de càrrega de prova de producte acabat per completar la verificació funcional de l'IC empaquetat, confirmant que la velocitat del xip, el consum d'energia, la integritat del senyal i altres indicadors compleixen les especificacions de disseny.

 

product-337-174


Proves d'envelliment d'alta fiabilitat: adequades per a escenaris de proves d'envelliment d'alta-temperatura i alta-pressió de xips de grau d'automoció i de grau industrial, accelerant l'exposició a problemes de fallada primerenca dels xips i millorant significativament la fiabilitat operativa a llarg termini-del producte.
Suport de camp electrònic de gamma alta: també es pot estendre a estacions base de comunicacions, control industrial, electrònica mèdica, aeroespacial i altres camps que requereixen un rendiment estricte de PCB, proporcionant suport de maquinari estable per a les proves d'investigació i desenvolupament de dispositius electrònics d'alt rendiment-.

Etiquetes populars: Placa de proves de nucli HWHS de 6 capes Uniwell Circuits, Xina, proveïdors, fabricants, fàbrica, barat, personalitzat, baix preu, alta qualitat, pressupost